近二十年来，对微电子器件可靠性及工艺检测技术进行过系统和深入的研究，主持过国家、部委和上海市以及地方企业重大科技攻关项目，如《集成电器工艺测试图形研究及数据处理》、《VLSI内建可靠性研究—输入参量的控制》、《半导体器件可靠性研究》等15项，其中通过成果鉴定项目14项，有五个项目成果公布在国家科委的《科学技术研究成果公报》中。科研成果是《微电子测试图形及其智能测试装置》、《方形阵列数字式四探针测试仪》分别获上海市科学技术进步二等奖和上海市科委重大科技成果三等奖，《微电子测试结构、图形及其测试系统》被国家教委评为优秀科技成果项目。在VLSI工艺检测技术中有创新，在国内取得领先地位，积极为企业培养人才，创利数十万。结合科研所取得的成果与人合著《微电子测试结构》一书，并发表论文如《用于双极型工艺评估的微电子测试图形研究》、《硅栅NMOS集成电路测试图形的初步研究及应用》、《体硅CMOS寄生参数的数值模拟及抗闭锁能力的测试分析》、《硅栅CMOS集成电路测试图形的研究》、《用薄层电阻比VLSI互连金属薄膜可靠性》等50余篇。在从事高教40多年中，注意教书育人，为国家培养了一批优秀人才。由于在教学及科研中作出了优异成绩，享受国务院颁发的政府特殊津贴。

她热心群众工作的热爱妇女工作，成绩显著，先后荣获上海市教育工会优秀工会积极分子上海市优秀妇女工作者、上海市“三八”红旗手等称号。